Diese Prüfkammer eignet sich für die Lebensdauertestforschung elektrischer und elektronischer Komponenten, Leiterplattenbaugruppen usw. Durch das Anlegen einzelner oder umfassender Spannungen auf diese Proben, einschließlich Hochtemperaturschritt, Niedertemperaturschritt, schneller Temperaturänderungszyklus, nicht-Gaußsche Breitband-Zufallsschwingung mit sechs Freiheitsgraden usw., wird die Spannung allmählich erhöht, um die Spannungsgrenze zu bestimmen, die sie standhalten können. Dies trägt dazu bei, Produktdefekte schnell zu identifizieren und in den Phasen der Forschung und Entwicklung, des Designs, der Versuchsproduktion und der Massenproduktion zu verbessern, die Forschungs- und Entwicklungszeit zu verkürzen und das Ziel einer schnellen Markteinführung unter der Prämisse der Gewährleistung der Produktqualität zu erreichen.