Die Hochbeschleunigte Belastungsprüfkammer (HAST) ist für die Halbleiterchipindustrie sowie für Anwendungen in der Zivilluftfahrt, der kommerziellen Luft- und Raumfahrt, der Schifffahrt, der Automobilindustrie, der neuen Energien, wissenschaftlichen Forschungseinrichtungen und Universitäten konzipiert. Sie wird eingesetzt, um elektronische Bauteile, Komponenten, integrierte Schaltkreise, Materialien und Prozesse durch die Beschleunigung von Hochtemperatur-, Hochfeuchtigkeits- und Hochdruckzyklen sowie von Dauerbelastungstests zu prüfen, um festzustellen, ob Funktionsausfälle aufgrund von Lebensdauer (Betriebsdauer) oder Umweltveränderungen auftreten.