Esta cámara de prueba es adecuada para la investigación de prueba de vida de componentes eléctricos y electrónicos, conjuntos de placas de circuito impreso, etc. Al aplicar un esfuerzo único o integral, incluido un paso de alta temperatura, un paso de baja temperatura, un ciclo de cambio rápido de temperatura y una vibración aleatoria de banda ancha no gaussiana de seis grados de libertad, a estas piezas de prueba, el estrés se incrementa gradualmente para determinar el límite de estrés que puede soportar. Esto ayuda a identificar rápidamente los defectos del producto y mejorarlos durante las etapas de I + D, diseño, producción de prueba y producción en masa, acortando el tiempo de I + D y logrando el objetivo de lanzamiento rápido al mismo tiempo que garantiza la calidad del producto.