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La cámara de prueba HAST es adecuada para la industria de chips de semiconductores, así como componentes electrónicos, piezas, circuitos integrados, materiales y procesos en aviación, aeroespacial, armas, barcos, industria nuclear, instituciones de investigación científica, universidades y otros campos. Confirma si la falla funcional ocurre debido a la durabilidad (vida útil) o a cambios ambientales mediante ciclos acelerados de alta temperatura, alta humedad, alta presión y pruebas constantes.
Nombre del producto | Cámara de prueba de alta tensión acelerada (cámara HAST) | |
Modelo de producto | HPSC251-M | El HPSC252-M |
Volumen del estudio | 51L | 51 L × 2 tanques |
Tamaño del estudio | φ380×D450 (R×D) | φ380 × D450 (R × D) × 2 tanques |
Tamaño del tanque de almacenamiento | φ450×D600(R×D) | φ450 × D600 (R × D) × 2 tanques |
Dimensiones exteriores | 1200 × 1960 × 1140 mm (ancho × altura × profundidad) | 1200 × 2170 × 1140 mm (ancho × altura × profundidad) |
Rango de Temperatura | 105℃~150℃ | |
Fluctuaciones de temperatura | ≤±0.5℃ | |
Uniformidad de la temperatura | ≤2℃ | |
Desviación de temperatura | ±2℃ | |
Rango de presión | 110kPa ~ 300kPa (presión absoluta) |
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