La Cámara de Pruebas de Estrés Acelerado Alto (HAST) está diseñada para la industria de chips de semiconductores, así como para aplicaciones en la aviación civil, la aeroespacial comercial, el transporte marítimo, la automoción, las nuevas energías, las instituciones de investigación científica y las universidades. Se utiliza para probar piezas electrónicas, componentes, circuitos integrados, materiales y procesos mediante la aceleración de pruebas de ciclos de alta temperatura, alta humedad, alta presión y pruebas de estrés constante, con el fin de determinar si se producen fallos funcionales debido a la durabilidad (vida útil) o a los cambios ambientales.