Highly Accelerated Stress Test Chamber(HAST Chamber)

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Highly Accelerated Stress Test Chamber(HAST Chamber)

Highly Accelerated Stress Test Chamber(HAST Chamber)

La descrizione

La Camera di Prove ad Alta Accelerazione (HAST) è progettata per l’industria dei chip semiconduttori, nonché per applicazioni nell’aviazione civile, nell’aerospazio commerciale, nel settore navale, nell’automotive, nelle nuove energie, nelle istituzioni di ricerca scientifica e nelle università. Viene utilizzata per testare componenti elettronici, componenti, circuiti integrati, materiali e processi mediante l’accelerazione di cicli ad alta temperatura, alta umidità, alta pressione e prove di sollecitazione costante, al fine di determinare se si verificano guasti funzionali dovuti alla durabilità (vita utile) o a cambiamenti ambientali.

Nome del prodotto Highly Accelerated Stress Test Chamber(HAST Chamber)
Modello di condotto prodotto HPSC251-M HPSC252-M
Volume della camera di lavoro 51 l 51 l × 2 serbatoi
Dimensioni della camera di lavoro φ 380 × D 450 (R × D) φ 380 × D 450 (R × D) × 2 serbatoi
Dimensioni del serbatoio φ 450 × D 600 (R × D) φ 450 × D 600 (R × D) × 2 serbatoi
Dimensioni esterne 1200 × 1960 × 1140 mm (W × H × D) 1200 × 2170 × 1140 mm (W × H × D)
Intervallo di temperatura 105℃~150℃
Fluttuazione della temperatura ≤±0.5℃
Uniformità della temperatura ≤2℃
Deviazione della temperatura ±2℃
Intervallo di pressione 110kPa ~ 300kPa (pressione assoluta)