本试验箱适用于电器电子元器件、印刷电路板组件等的寿命试验研究。通过对这些试件施加包括高温阶跃、低温阶跃、快速变温循环、六自由度非高斯宽带随机振动等单一或综合应力，逐渐增大应力，确定其所能承受的应力极限。这有助于在研发、设计、试制、量产阶段快速识别产品缺陷并进行改进，缩短研发时间，在保证产品质量的前提下实现快速上市的目标。