高压加速老化试验箱(HAST)

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高压加速老化试验箱(HAST)

高压加速老化试验箱(HAST)

描述

HAST试验箱适用于半导体芯片行业,以及航空、航天、兵器、船舶、核工业、科研机构、高等院校等领域的电子元器件、零部件、集成电路、材料、工艺。它通过加速高温、高湿、高压循环和不断测试,确认功能失效是由于耐久性(寿命)还是环境变化而发生。

产品名称 高压加速老化试验箱(HAST)
产品型号 HPSC251-M HPSC252-M
工作室容积 51L 51 L × 2罐
工作室尺寸 φ 380 × D450(R × D) φ 380 × D450(R × D)× 2罐
储罐尺寸 φ 450 × D600(R × D) φ 450 × D600(R × D)× 2罐
外部尺寸 1200 × 1960 × 1140毫米(宽×高×深) 1200 × 2170 × 1140毫米(宽×高×深)
温度范围 105℃~150℃
温度波动 ≤±0.5℃
温度均匀性 ≤2℃
温度偏差 ±2℃
压力范围 110kPa~300kPa(绝对压力)