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高压加速老化试验箱(HAST)适用于半导体芯片行业以及民用航空、商业航天、船舶、汽车、新能源、科研院校等领域电子部品、元器件、集成电路以及材料、工艺等通过加速进行高温、高湿、高压循环及恒定试验测试来确认其是否因耐久性(寿命)或环境变化而导致功能失效。
| 产品名称 | 高压加速老化试验箱（HAST） | |
| 产品型号 | HPSC251-M | HPSC252-M |
| 工作室容积 | 51L | 51 L × 2罐 |
| 工作室尺寸 | φ 380 × D450(R × D) | φ 380 × D450(R × D)× 2罐 |
| 储罐尺寸 | φ 450 × D600(R × D) | φ 450 × D600(R × D)× 2罐 |
| 外部尺寸 | 1200 × 1960 × 1140毫米（宽×高×深） | 1200 × 2170 × 1140毫米（宽×高×深） |
| 温度范围 | 105℃～150℃ | |
| 温度波动 | ≤±0.5℃ | |
| 温度均匀性 | ≤2℃ | |
| 温度偏差 | ±2℃ | |
| 压力范围 | 110kPa~300kPa（绝对压力） | |
主要从事环境试验设备、仪器仪表及配件的设计、制造、销售、技术咨询及维修服务。
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