HAST试验箱适用于半导体芯片行业,以及航空、航天、兵器、船舶、核工业、科研机构、高等院校等领域的电子元器件、零部件、集成电路、材料、工艺。它通过加速高温、高湿、高压循环和不断测试,确认功能失效是由于耐久性(寿命)还是环境变化而发生。
产品名称 | 高压加速老化试验箱(HAST) | |
产品型号 | HPSC251-M | HPSC252-M |
工作室容积 | 51L | 51 L × 2罐 |
工作室尺寸 | φ 380 × D450(R × D) | φ 380 × D450(R × D)× 2罐 |
储罐尺寸 | φ 450 × D600(R × D) | φ 450 × D600(R × D)× 2罐 |
外部尺寸 | 1200 × 1960 × 1140毫米(宽×高×深) | 1200 × 2170 × 1140毫米(宽×高×深) |
温度范围 | 105℃~150℃ | |
温度波动 | ≤±0.5℃ | |
温度均匀性 | ≤2℃ | |
温度偏差 | ±2℃ | |
压力范围 | 110kPa~300kPa(绝对压力) |
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